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簡介:Fluke Ti4x 型產品提供了各種熱成像任務所需的一切功能。 借助 160 x 120 探測器和精確至 0.08 ºC (80mK) 的溫度靈敏度 (NETD),它們可提供高分辨率的圖像,甚至能清晰顯示出最小的溫度差異。 這些設備采用 Windows® CE 菜單結構,操作異常方便。
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簡介:溫度測量范圍(-10°C 以下未校準) -20 °C 至 +650 °C (-4 °F 至 +1202 °F) 溫度測量精度 ± 2 °C 或 2 % (處于 25 °C 額定溫度時,取較大值) 屏顯發射率校正 是(根據數字和表格) 屏顯反射背景溫度補償 是
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簡介:溫度測量范圍 -10 °C 至 +250 °C(14 °F 至 482 °F) 溫度測量準確度 ±2°C 或溫度讀數的 ±2%,取測試結果較大者(額定為 25 °C) 屏顯發射率校正 是 屏顯反射背景溫度補償 是
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簡介:熱敏度 (NETD) Ti45: ≤0.08 °C(80 mK),30 °C 時 Ti40: ≤0.09 °C (90 mK) 30 °C時 探測器數據采集/圖像頻率* 30 Hz/60 Hz 對焦 SmartFocus;一指通連續聚焦
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